A.垂直入射角
B.臨界角
C.最小反射角
D.以上三種都不對(duì)
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A.水與金屬的阻抗比
B.水與金屬的相對(duì)聲速
C.超聲波的頻率
D.水與金屬的密度比
A.把X切割石英直接放在材料表面并通過(guò)油膜耦合
B.利用試件相對(duì)側(cè)面上的兩個(gè)轉(zhuǎn)換器
C.把球面聲透鏡放在轉(zhuǎn)換器表面上
D.把轉(zhuǎn)換器安裝在塑料斜楔上，使聲束以某個(gè)角度進(jìn)入工作
A.鋯鈦酸鉛
B.石英
C.鎳
D.鈦酸鋇
A.電路圖
B.設(shè)計(jì)圖
C.方塊圖
D.上述3種都不對(duì)
A.折射率
B.超聲波的頻率
C.楊氏摸量
D.聲阻抗
最新試題
儀器時(shí)基線調(diào)節(jié)比例時(shí)，若回波前沿沒(méi)有對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn)，會(huì)使缺陷定位誤差增加。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷檢出率高，超聲波束覆蓋區(qū)域大，缺陷高度測(cè)量精確，實(shí)時(shí)成像，快速分析。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計(jì)算公式與圓柱形平面反射體的表達(dá)式進(jìn)行比較可知，在反射體直徑相同的情況下，圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
在檢測(cè)晶粒粗大和大型工件時(shí)，應(yīng)測(cè)定材料的衰減系數(shù)，計(jì)算時(shí)應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。
超聲波在圓柱內(nèi)反射，如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換，且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波，返回探頭接收，會(huì)形成等邊的三角形遲到回波。
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度，它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
缺陷垂直時(shí)，擴(kuò)散波束入射至缺陷時(shí)回波較高，而定位時(shí)就會(huì)誤認(rèn)為缺陷在軸線上，從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊，使之形成高溫耦合層。
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過(guò)一段液體后再進(jìn)入試件的檢測(cè)的方法。
由于超聲波對(duì)進(jìn)入面的表面粗糙度、入射超聲束的方向等有一定的要求，必要時(shí)應(yīng)通過(guò)增添專門的工序，采用經(jīng)批準(zhǔn)的加工方法準(zhǔn)備超聲波進(jìn)入面。