A.干法交流電
B.干法直流電
C.濕法交流電
D.濕法直流電
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A.疲勞裂紋
B.磨削裂紋
C.弧口裂紋
D.熱影響裂紋
A.多方向磁化
B.芯棒法磁化
C.直流磁化
A.兩個(gè)或兩個(gè)以上不同方向磁場(chǎng)
B.反向磁場(chǎng)
C.高頻磁場(chǎng)
A.測(cè)量?jī)x
B.磁強(qiáng)計(jì)
C.在零件上放一磁鐵
D.仔細(xì)觀察零件是否粘有磁粉
A.1500LX
B.1000LX
C.800LX
D.2000LX
最新試題
對(duì)于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會(huì)影響缺陷的定量。
缺陷垂直時(shí),擴(kuò)散波束入射至缺陷時(shí)回波較高,而定位時(shí)就會(huì)誤認(rèn)為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時(shí),接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。
對(duì)于比正??v波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。
儀器時(shí)基線調(diào)節(jié)比例時(shí),若回波前沿沒有對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn),會(huì)使缺陷定位誤差增加。
在檢測(cè)晶粒粗大和大型工件時(shí),應(yīng)測(cè)定材料的衰減系數(shù),計(jì)算時(shí)應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。
對(duì)于圓柱體而言,外圓徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。
水浸式探頭主要特點(diǎn)是探頭與工件直接接觸,且探頭部分或全部門浸入耦合液中。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無(wú)機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。