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IBM公司的統(tǒng)計(jì)資料表明，使用靜態(tài)測(cè)試的方法最高可以查出在測(cè)試中查出的全部軟件錯(cuò)誤的（）。
如果想要進(jìn)行成功的測(cè)試，為其設(shè)計(jì)測(cè)試用例主要依賴于（）。
下面是選擇排序的程序，其中datalist是數(shù)據(jù)表，它有兩個(gè)數(shù)據(jù)成員：一是元素類型為Element的數(shù)組V，另一個(gè)是數(shù)組大小n。算法中用到兩個(gè)操作，一是取某數(shù)組元素V[i]的關(guān)鍵碼操作getKey（），一是交換兩數(shù)組元素內(nèi)容的操作Swap（）：（1）試計(jì)算此程序段的McCabe復(fù)雜性；（2）用基本路徑覆蓋法給出測(cè)試路徑；（3）為各測(cè)試路徑設(shè)計(jì)測(cè)試用例。
軟件的組裝測(cè)試最好是由（）承擔(dān)，以提高組裝測(cè)試的效果。
由因果圖轉(zhuǎn)換出來的（）是確定測(cè)試用例的基礎(chǔ)。
動(dòng)態(tài)測(cè)試指通過（）發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤。對(duì)軟件產(chǎn)品進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)試時(shí)使用黑盒測(cè)試法和（）法。
面向?qū)ο箝_發(fā)方法與面向數(shù)據(jù)流的結(jié)構(gòu)化開發(fā)方法有什么不同？使用面向?qū)ο箝_發(fā)方法的優(yōu)點(diǎn)在什么地方？
軟件測(cè)試階段的基本任務(wù)應(yīng)當(dāng)是根據(jù)軟件開發(fā)各階段的（）和程序的（），精心設(shè)計(jì)一批“高產(chǎn)”的測(cè)試用例，利用這些測(cè)試用例（），找出軟件中潛藏的各種錯(cuò)誤和缺陷。
如圖所示的程序有三條不同的路徑。分別表示為L1（a→b）、L2（a→c→d）、L3（a→c→e），或簡寫為ace、abd、abe及acd。根據(jù)判定覆蓋、條件覆蓋、判定–條件覆蓋、條件組合覆蓋和路徑覆蓋等五種覆蓋標(biāo)準(zhǔn)，從供選擇的答案中分別找出滿足相應(yīng)覆蓋標(biāo)準(zhǔn)的最小測(cè)試用例組。（用~①⑩回答）供選擇的答案：
在類的通過復(fù)用的設(shè)計(jì)中，主要的繼承關(guān)系有哪幾種？試舉例說明。