A.<5%
B.<1%
C.<2%
D.<0.5%
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A.用表面波、斜聲束接觸法
B.用橫波、斜聲束法
C.用表面波、水浸檢測(cè)法
D.用縱波直聲束接觸法
A.1/2跨距
B.1個(gè)跨距
C.2個(gè)跨距
D.以上都不是
A.鑄鋼及奧氏體不銹鋼
B.外徑小于159mm鋼管對(duì)接
C.內(nèi)徑≤200mm的管座角焊及外徑<250mm和內(nèi)外徑之比<80%的縱向焊縫
D.以上都是
A.CSK-IA
B.CSK-IIA
C.CSK-IIIA
D.CSK-IVA
E.以上都是
A.前后掃查
B.左右掃查
C.轉(zhuǎn)角與環(huán)繞掃查
D.以上都是
最新試題
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
單探頭法容易檢出()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。