A.3.0~2.0
B.2.5~2.0
C.2.0~1.0
D.以上都不是
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A.>120~400mm
B.>46~120mm
C.>15~46mm
D.8~15mm
A.調(diào)整補(bǔ)償
B.傳輸損失補(bǔ)償
C.聲程補(bǔ)償
D.以上都不是
A.3dB
B.6dB
C.9dB
D.12dB
A.3.0~2.0
B.2.5~1.5
C.2.0~1.0
D.以上都不是
A.Ø1x6-9dB
B.Ø1x6-6dB
C.Ø3-4dB
D.Ø1x6+10dB
最新試題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
單探頭法容易檢出()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
儀器水平線性影響()。