A.靈敏度試塊
B.對比試塊
C.標(biāo)準(zhǔn)試塊
D.自然缺陷試塊
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A.±5%
B.±10%
C.±15%
D.±20%
A.＞10mm
B.≥100mm
C.＞400mm
D.＞600mm
A.H大于鋼管中橫波全聲程的
B.H等與鋼管中橫波全聲程的
C.H小于鋼管中橫波全聲程的
D.以上都不對
A.用比較堅(jiān)硬的探頭
B.用較粘稠的耦合劑
C.用較厚的晶片
D.用軟保護(hù)膜探頭
A.A試塊的大
B.B試塊的大
C.一樣大
D.無法比較
最新試題
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
儀器水平線性影響（）。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。