A、采用當(dāng)量試塊比較法測(cè)定的結(jié)果
B、對(duì)大于聲束的缺陷，采用底波對(duì)比而測(cè)得的結(jié)果
C、根據(jù)缺陷反射波高和探頭移動(dòng)的距離而測(cè)得的結(jié)果
D、缺陷定量法之一，和AVG曲線的原理相同
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B、統(tǒng)一的探傷方法制度
C、統(tǒng)一的報(bào)告制度
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A、靈敏度較低的探頭
B、寬帶探頭
C、低Q值探頭
D、以上都對(duì)
A、電磁效應(yīng)
B、磁致伸縮效應(yīng)
C、壓電效應(yīng)
D、磁敏效應(yīng)
A、掃描電路
B、頻帶寬度
C、動(dòng)態(tài)范圍
D、放大倍數(shù)
A、連續(xù)波穿透法
B、脈沖波反射法
C、連續(xù)波共振法
D、剪切波諧振法
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