A、射源至試件距離越遠(yuǎn)，影像放大得越大
B、射源至試件的距離與試件至底片距離之比越大，影像放大得越大
C、射源至試件的距離與試件至底片距離之比越小，影像放大得越大
D、射源至試件的距離與影像放大無關(guān)
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你可能感興趣的試題
A、射源至底片的距離
B、曝光時間
C、KV
D、mA
A、第一次較易檢出缺陷
B、第二次較易檢出缺陷
C、對于缺陷檢出力無法比較
D、以上都對
A、8.5英寸底片三張，雙壁照相單壁看片
B、8.5英寸底片兩張，雙壁照相雙壁看片
C、8.5英寸底片四張，雙壁照相單壁看片
D、12英寸底片三張，雙壁照相單壁看片
A、橢圓投影，至少相隔90°兩次照像，雙壁看片
B、橢圓投影，至少相隔180°兩次照像，雙壁看片
C、一次橢圓投影，雙壁看片
D、以上都可以
A、將會產(chǎn)生相同強(qiáng)度與品質(zhì)的輻射線
B、將會產(chǎn)生相同強(qiáng)度、品質(zhì)不同的輻射線
C、將會產(chǎn)生不同強(qiáng)度、相同品質(zhì)的輻射線
D、輻射強(qiáng)度與品質(zhì)均不同
最新試題
射線經(jīng)過一個半價層后，其（）衰減一半。
脈沖反射法A型顯示取得缺陷信息是根據(jù)（）
一般來說，對薄工件焊縫的超聲波探傷選用大折射角探頭可以（）
在近場以外的部分，即聲程大于3N的遠(yuǎn)場區(qū)聲壓與距離的關(guān)系為（）
底片干燥時，一般不得超過60℃，是因?yàn)椋ǎ?/p>
散射比的大小與（）因素有關(guān)。
在射線照相時，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在（）
檢查厚焊縫中沿熔合線方向的平面狀缺陷應(yīng)采用（）
關(guān)于圓晶片輻射的超聲波，下列說法正確的是（）（S為傳播距離，N為近場長度）。
下列關(guān)于IIW試塊的說法，正確的是（）