A、質(zhì)子
B、中子
C、質(zhì)子加中子
D、電子
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A、核中的質(zhì)子數(shù)
B、核中的中子數(shù)
C、核中的質(zhì)子與中子數(shù)之和
D、質(zhì)量
描述放射性衰變規(guī)律的數(shù)學(xué)表達(dá)式為()(式中N為經(jīng)過(guò)時(shí)間t后尚未衰變的原子數(shù)目,N0為t=o時(shí)的原子數(shù)目,λ為衰變常數(shù))
A、N=N0e-λt
B、N=N0e-λt
C、N=N0e-λt
D、N=N0e-λt
A、具有特定能量與波長(zhǎng)的X射線束
B、能量與波長(zhǎng)不定的X射線束
C、單一波長(zhǎng)的X射線束
D、含有多種波長(zhǎng)的X射線束
A、異種X射線束
B、特征X射線束
C、單一波長(zhǎng)的X射線束
D、含有多種波長(zhǎng)的X射線束
A、它與材料中的散射強(qiáng)度成正比
B、它與射線源的距離平方成正比
C、它隨材料的厚度,大致以指數(shù)規(guī)律變化
D、它與材料的厚度成正比
最新試題
化學(xué)清洗用于去除工件表面的()
著色滲透劑應(yīng)具有()性能。
關(guān)于圓晶片輻射的超聲波,下列說(shuō)法正確的是()(S為傳播距離,N為近場(chǎng)長(zhǎng)度)。
顯示試件某一縱斷面的聲象的顯示方式為()
與直探頭相比,雙晶探頭()
一般來(lái)說(shuō),對(duì)薄工件焊縫的超聲波探傷選用大折射角探頭可以()
射線照像底片上產(chǎn)生黑色樹枝狀花紋的原因是()
射線經(jīng)過(guò)一個(gè)半價(jià)層后,其()衰減一半。
關(guān)于聲波的指向性和指向角,正確的是()
采用X射線機(jī)對(duì)某一工件探傷時(shí),焦距為1m,曝光時(shí)間為6min,其余條件均不變,曝光時(shí)間改為3min時(shí)透照焦距應(yīng)改為()