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判斷題用平行平晶檢定千分尺兩測量面的平行度時，當(dāng)千分尺測量面與平行平晶接觸時，必須在測力作用下接觸，也可以轉(zhuǎn)動微分筒接觸。

1.判斷題千分尺兩測量面的平行度可用平行平晶檢定。目前，我國生產(chǎn)的平行平晶共分四組，可用來檢定0～100mm四個規(guī)格的千分尺平行度。

2.判斷題千分表測砧與測微螺桿測量面的相對偏移的檢定是在平板上用杠桿百分表進(jìn)行，對于測量范圍大于30mm的千分尺用百分表檢定。

3.判斷題千分尺測微螺桿與測砧兩軸線間偏差不能太大，否則會影響千分尺的準(zhǔn)確度。

4.判斷題檢定千分表工作面的平面度用二級平晶用技術(shù)光波干涉法檢定。

5.判斷題檢定千分尺微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離在工具顯微鏡上檢定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻線表面上用比較法檢定。

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