A.增感屏和膠片之間
B.膠片側(cè)工件表面
C.射源側(cè)工件表面
D.B和C都有可能
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A.擺放像質(zhì)計(jì)時(shí),擺放位置一般是在射線透照區(qū)內(nèi)靈敏度較低部位
B.采用單壁透照法時(shí),像質(zhì)計(jì)如不能放在近射源側(cè)的表面則要做對(duì)比試驗(yàn)
C.當(dāng)像質(zhì)計(jì)擺放在膠片側(cè)時(shí)應(yīng)加放“F”標(biāo)記
D.以上都對(duì)
A.金屬絲型像質(zhì)計(jì)
B.孔型像質(zhì)計(jì)
C.槽型像質(zhì)計(jì)
D.以上都是
A.裁片時(shí)不可把膠片上的襯紙取掉裁切,不要多層膠片同時(shí)裁切
B.裝片和取片時(shí),膠片與增感屏應(yīng)避免摩擦,否則會(huì)擦傷
C.膠片宜保存在低溫低濕干燥的環(huán)境中,越干燥越好
D.膠片應(yīng)遠(yuǎn)離熱源和射線的影響,在暗室紅燈下操作不宜距離過(guò)近
A.需要較高的射線照相質(zhì)量,則需使用號(hào)數(shù)較大的膠片
B.射源線質(zhì)較硬時(shí),可選用號(hào)數(shù)較小的膠片
C.在工作環(huán)境比較干燥時(shí),宜選用抗靜電感光性能較好的膠片
D.在工作環(huán)境溫度較高時(shí),宜選用抗潮性能較好的膠片
A.射線照相技術(shù)要求
B.暗室條件、評(píng)片條件
C.射線的線質(zhì)
D.工件厚度、材料種類(lèi)
最新試題
在試件外緣由射線散射引起射線照相圖像質(zhì)量變差的現(xiàn)象叫()
有關(guān)射線膠片特性的敘述,正確的是()
為了提高橫向缺陷檢出率,射線照相應(yīng)該采取下列中的哪個(gè)措施()
評(píng)片時(shí)對(duì)觀片燈的要求是()
發(fā)生X或Υ射線人身傷害事故后,首先應(yīng)()
射線照相法適宜檢測(cè)的材料是()
在射線檢測(cè)中,下列哪一種裂紋最難檢測(cè)()
同位素的含義是()
以下不適合用超聲波檢測(cè)的缺陷是()
下列哪種不是射線照相法的特點(diǎn)()