A.d′值與df成正比
B.d′值與L1、L2成反比
C.d′小于缺陷寬度W時(shí),底片上缺陷影象有本影,對(duì)比度根據(jù)缺陷形狀進(jìn)行修正
D.d′大于缺陷寬度W時(shí),底片上缺陷影象無本影,對(duì)比度急劇下降
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A.對(duì)比度
B.不清晰度
C.顆粒度
D.以上都是
A.增加曝光量;
B.提高管電壓;
C.增大焦距;
D.膠片與工件距離減小。
A.顯影程度;
B.使用鉛增感屏;
C.射線穿透力;
D.使用熒光增感屏。
A.吸收系數(shù);
B.散射因子;
C.固有不清晰度;
D.形狀修正系數(shù)。
A.縱縫Ug值各處都一樣,而環(huán)縫Ug隨部位而變化;
B.環(huán)縫Ug值各處都一樣,而縱縫Ug隨部位而變化;
C.無論縱縫、環(huán)縫,Ug值在任何部位都相同,不發(fā)生變化;
D.以上都不是。
最新試題
為了提高橫向缺陷檢出率,射線照相應(yīng)該采取下列中的哪個(gè)措施()
射線底片灰霧度過大會(huì)損害影像的()
RT檢測(cè)中,控制散射線的方法是采用哪種手段()
下列與底片上缺陷觀察有關(guān)的因素是()
對(duì)于螺栓的檢測(cè),不適用的無損檢測(cè)方法是()
在射線檢測(cè)中,下列哪一種裂紋最難檢測(cè)()
對(duì)焊縫清根的檢測(cè)一般采用下列什么方法()
評(píng)片時(shí)對(duì)觀片燈的要求是()
對(duì)于檢測(cè)白點(diǎn)類內(nèi)部缺陷,適用的無損檢測(cè)方法是()
在同樣的X射線管電流下,管電壓增加,則()