最新試題
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)靈敏度不僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)，還受被檢工件材質(zhì)的影響。
題型：判斷題
磁粉檢測(cè)—橡膠鑄型法是采用連續(xù)法檢測(cè)。
題型：判斷題
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
題型：判斷題
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響，僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)。
題型：判斷題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：剩磁應(yīng)不大于0.3mT（240A/m）。
題型：判斷題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場(chǎng)中，逐漸減小電流至零。
題型：判斷題
剩磁法不能用于干法檢測(cè)。
題型：判斷題
熒光磁粉檢測(cè)時(shí)，磁痕的評(píng)定應(yīng)在暗室或暗處進(jìn)行，暗室或暗處可見(jiàn)光照度應(yīng)不小于20Lx。
題型：判斷題
組合裝配件應(yīng)分解后再進(jìn)行磁粉檢測(cè)。
題型：判斷題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí)，按一條磁痕處理，其長(zhǎng)度為兩條磁痕之和加間距。
題型：判斷題