最新試題

標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)的系統(tǒng)靈敏度,確定被檢工件的磁化規(guī)范。

題型:判斷題

磁粉檢測(cè),所有的磁痕尺寸、數(shù)量和產(chǎn)生部位均應(yīng)記錄并圖示。

題型:判斷題

組合裝配件應(yīng)分解后再進(jìn)行磁粉檢測(cè)。

題型:判斷題

JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:采用軸向通電法和觸頭法磁化時(shí),為了防止電弧燒傷工件表面,應(yīng)將工件和電極接觸部分清除干凈或在電極上安裝非導(dǎo)電物質(zhì)。

題型:判斷題

根據(jù)JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,磁粉檢測(cè)前的工件表面準(zhǔn)備包括打磨表面、安裝接觸墊、封堵盲孔和涂敷反差增強(qiáng)劑。

題型:判斷題

熒光磁粉檢測(cè)時(shí),磁痕的評(píng)定應(yīng)在暗室或暗處進(jìn)行,暗室或暗處可見(jiàn)光照度應(yīng)不小于20Lx。

題型:判斷題

退磁就是消除材料磁化后的剩余磁場(chǎng)使其達(dá)到無(wú)磁狀態(tài)的過(guò)程。

題型:判斷題

一般說(shuō)來(lái),進(jìn)行了周向磁化工件的退磁,應(yīng)先進(jìn)行一次縱向磁化。

題型:判斷題

C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。

題型:判斷題

采用剩磁法時(shí),磁懸液應(yīng)在通電結(jié)束后再施加,一般通電時(shí)間為2~3s。

題型:判斷題