判斷題TB/T2634—1995標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，超高溫探頭用字母HH表示。
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缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
題型：判斷題
儀器時基線比例一般在試塊上調(diào)節(jié)，當(dāng)工件與試塊的聲速不同時，儀器的時基線比例發(fā)生變化，影響缺陷定位精度。
題型：判斷題
超聲波檢測中如果被檢工件衰減嚴(yán)重，定量會受到影響。
題型：判斷題
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過一段液體后再進(jìn)入試件的檢測的方法。
題型：判斷題
爬波在自由表面的位移有垂直分量，但不是純粹的表面波。
題型：判斷題
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度，它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
題型：判斷題
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時，而又沒有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償，會使定量誤差增加，精度下降。
題型：判斷題
對于橫波斜探頭而言，不同K值的探頭的靈敏度不同，因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。
題型：判斷題
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼，電纜為無機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。
題型：判斷題
對于圓柱體而言，外圓徑向檢測實(shí)心圓柱體時，入射點(diǎn)處的回波聲壓實(shí)際上由于圓柱面耦合不及平面，因而其回波高于平底面，會使定量誤差增加。
題型：判斷題