您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、運(yùn)算器、控制器、存儲(chǔ)器、輸入設(shè)備和輸出設(shè)備
B、主機(jī)和外部設(shè)備
C、硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)
D、主機(jī)箱、顯示器、鍵盤、鼠標(biāo)、打印機(jī)
最新試題
熱工自動(dòng)化設(shè)備電源不得作照明電源或檢修及動(dòng)力設(shè)備電源使用。因此,熱工儀表管的伴熱電源也必須使用專用電源,不應(yīng)使用檢修電源。
測(cè)量?jī)x表檢修或校準(zhǔn)時(shí),均應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)前檢查性試驗(yàn)。檢查性校驗(yàn)未完成前,對(duì)被校儀表不得進(jìn)行任何形式的調(diào)整。
由于原運(yùn)行試驗(yàn)操作票中對(duì)熱工信號(hào)條件的要求不夠嚴(yán)格。因此,DL/T774-2004要求編制專用的試驗(yàn)操作卡,其目的是將運(yùn)行、熱工保護(hù)連鎖試驗(yàn)操作卡合二為一,以便規(guī)范試驗(yàn)操作,減少試驗(yàn)不徹底可能產(chǎn)生的故障隱患。
熱工自動(dòng)化系統(tǒng)設(shè)備檢修臺(tái)帳,應(yīng)記錄的只是設(shè)備故障檢修情況,包括檢修原因、采取的措施和設(shè)備生產(chǎn)單位。
動(dòng)態(tài)鈉度測(cè)量時(shí),甘汞電極應(yīng)插放相對(duì)于pNa電極的上游。
檢測(cè)儀表根據(jù)調(diào)整前校驗(yàn)記錄評(píng)定等級(jí),校準(zhǔn)周期可適當(dāng)縮短或延長(zhǎng)。
隨機(jī)組同時(shí)進(jìn)行檢修的熱工自動(dòng)化系統(tǒng)設(shè)備,須事先完成標(biāo)準(zhǔn)檢修項(xiàng)目、非標(biāo)準(zhǔn)項(xiàng)目和檢修計(jì)劃的編制。
熱工自動(dòng)化系統(tǒng)試驗(yàn),應(yīng)在各子系統(tǒng)及設(shè)備均檢修完畢、靜態(tài)試驗(yàn)符合質(zhì)量要求,并已恢復(fù)正常情況下進(jìn)行。
熱工保護(hù)、連鎖條件信號(hào),在特殊情況下可先執(zhí)行退出或投入運(yùn)行操作,但隨后必須立即補(bǔ)全手續(xù)。
溶液電導(dǎo)率的溫度系數(shù)是指溫度每變化1℃,電導(dǎo)率變化的百分?jǐn)?shù)。