A、錯(cuò)誤檢查又稱為邊界檢查
B、存儲(chǔ)器填充又稱為邊界檢查
C、存儲(chǔ)器檢查又稱為邊界檢查
D、存儲(chǔ)器訪問(wèn)檢查又稱為邊界檢查
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A、單元測(cè)試
B、模塊測(cè)試
C、子系統(tǒng)測(cè)試
D、驗(yàn)證測(cè)試
A、適用于白盒測(cè)試的方法是邊界值分析
B、適用于白盒測(cè)試的方法是邏輯覆蓋法
C、適用于白盒測(cè)試的方法是錯(cuò)誤推測(cè)法
D、適用于白盒測(cè)試的方法是劃分等價(jià)類(lèi)
A、黑盒測(cè)試技術(shù)中的邊界值分析在很大程度上是試探性的，與設(shè)計(jì)者的經(jīng)驗(yàn)有關(guān)
B、黑盒測(cè)試技術(shù)中的劃分等價(jià)類(lèi)在很大程度上是試探性的，與設(shè)計(jì)者的經(jīng)驗(yàn)有關(guān)
C、黑盒測(cè)試技術(shù)中的錯(cuò)誤推測(cè)法在很大程度上是試探性的，與設(shè)計(jì)者的經(jīng)驗(yàn)有關(guān)
D、黑盒測(cè)試技術(shù)中的邏輯覆蓋法在很大程度上是試探性的，與設(shè)計(jì)者的經(jīng)驗(yàn)有關(guān)
A、劃分等價(jià)類(lèi)屬于黑盒測(cè)試技術(shù)
B、邊界值分析屬于黑盒測(cè)試技術(shù)
C、錯(cuò)誤推測(cè)法屬于黑盒測(cè)試技術(shù)
D、邏輯覆蓋法屬于黑盒測(cè)試技術(shù)
A、所謂系統(tǒng)測(cè)試就是同時(shí)運(yùn)行新開(kāi)發(fā)出來(lái)的系統(tǒng)和將被它取代的舊系統(tǒng)，以便比較新舊兩個(gè)系統(tǒng)的處理結(jié)果
B、所謂模塊測(cè)試就是同時(shí)運(yùn)行新開(kāi)發(fā)出來(lái)的系統(tǒng)和將被它取代的舊系統(tǒng)，以便比較新舊兩個(gè)系統(tǒng)的處理結(jié)果
C、所謂驗(yàn)收測(cè)試就是同時(shí)運(yùn)行新開(kāi)發(fā)出來(lái)的系統(tǒng)和將被它取代的舊系統(tǒng)，以便比較新舊兩個(gè)系統(tǒng)的處理結(jié)果
D、所謂平行測(cè)試就是同時(shí)運(yùn)行新開(kāi)發(fā)出來(lái)的系統(tǒng)和將被它取代的舊系統(tǒng)，以便比較新舊兩個(gè)系統(tǒng)的處理結(jié)果
最新試題
以下哪種集成測(cè)試先對(duì)核心軟件部件進(jìn)行集成測(cè)試（）
下面屬于判定表優(yōu)點(diǎn)的是（）
若按用戶要求分，軟件測(cè)試可分為（）
以下屬于白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試共同點(diǎn)的是（）
對(duì)于用戶而言軟件測(cè)試是為了（）
以下不屬于判定表建立步驟的是（）
RUP軟件測(cè)試流程最后的測(cè)試步驟是（）
TestManager使用時(shí)首先需要（）
若按測(cè)試內(nèi)容分，軟件測(cè)試可分為（）
在白盒測(cè)試法中，應(yīng)保證一個(gè)模塊中所有獨(dú)立路徑至少被測(cè)試幾次（）