單項(xiàng)選擇題設(shè)入射線強(qiáng)度為I0，透過射線強(qiáng)度為I，散射線強(qiáng)度為Is，則散射比n定義為（）。
A.Is/I
B.Is/I0
C.I/I0
D.I0/I
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1.單項(xiàng)選擇題未經(jīng)曝光而直接進(jìn)行暗室處理后所得底片黑度稱為（）。
A.本底灰霧度
B.原始灰霧度
C.膠片固有灰霧度
D.A、B和C
2.單項(xiàng)選擇題使用γ射線或高能Χ射線透照厚工件時(shí)，膠片類型和膠片（）的選擇十分重要。
A.黑度
B.價(jià)格
C.重量
D.以上都不對(duì)
3.單項(xiàng)選擇題感光膠片的“潛影”形成后，若相隔（）時(shí)間顯影，影像就會(huì)變淡，這種現(xiàn)象稱之為潛影衰退。
A.很長(zhǎng)
B.很短
C.適中
D.無間隔
4.單項(xiàng)選擇題在射線照射下，膠片乳劑層中的鹵化銀感光微粒將發(fā)生變化，可以形成潛在的影像，稱為。（）。
A.衰退
B.電離
C.潛影
D.照射
5.單項(xiàng)選擇題膠片經(jīng)曝光后產(chǎn)生的潛影（）。
A.能夠直接被肉眼觀察到
B.在紅燈下能夠被肉眼觀察到
C.需要經(jīng)過電信號(hào)轉(zhuǎn)化成圖象
D.以上都不是
最新試題
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用（）填補(bǔ)工件的較薄部分，使透照厚度差減小的方法。
題型：多項(xiàng)選擇題
探頭主聲束（）將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。
題型：多項(xiàng)選擇題
滲透劑檢測(cè)壓力噴灌的存放應(yīng)避免（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
冷裂紋常見的有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測(cè)時(shí)，缺陷定位說法正確的有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
超聲波探傷儀要盡量避免在（）場(chǎng)合使用。
題型：多項(xiàng)選擇題
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用（）方法。
題型：多項(xiàng)選擇題
將彎曲液面對(duì)液體的壓強(qiáng)與平面液面對(duì)液體的壓強(qiáng)相比，任何液面膜對(duì)液體施以附加壓強(qiáng)，下面描述正確的是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
表面波檢測(cè)中，利用表面波檢測(cè)（）效果好。
題型：多項(xiàng)選擇題