A.波幅增益量
B.缺陷當(dāng)量尺寸
C.距離
D.以上都不對(duì)
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A.波幅增益量
B.缺陷當(dāng)量尺寸
C.距離
D.以上都不對(duì)
A.缺陷的反射幅度低
B.被檢材料表面過分粗糙
C.回波的寬度大
D.以上都對(duì)
A.激勵(lì)電脈沖的寬度
B.發(fā)射電路阻尼電阻的大小
C.晶片的材料和厚度
D.晶片的機(jī)電耦合系數(shù)
A.鋼鍛件
B.鑄鋼件
C.鋼板
D.上述工件的衰減相同
A.1/2波長的整數(shù)倍
B.1/4波長的奇數(shù)倍
C.1/4波長的整數(shù)倍
D.以上都不對(duì)
最新試題
各種電氣設(shè)備都有各自的保護(hù)系統(tǒng),X 射線機(jī)的保護(hù)系統(tǒng)主要有()。
影響定影的因素主要有()。
筒形或環(huán)形鍛件的鍛造工藝是先鐓粗,后沖孔,再滾壓。因此,缺陷的取向比軸類鍛件和餅類鍛件中的缺陷取向復(fù)雜。所以對(duì)這類鍛件一般采用()進(jìn)行檢測。
組成滲透液的物質(zhì)很多,為保證其使用性能,除了主要的紅色染料外,又添加了()等物質(zhì)。
磁粉檢測用的黑光燈發(fā)出的光包含有(),而把不需要的光線用濾光片過濾掉。
下列關(guān)于顯像劑粉末吸附缺陷中滲透劑的說法正確的有()。
滲透檢測焊縫,對(duì)焊縫及熱影響區(qū)表面進(jìn)行清理,可以采用()。
確定滲透劑是否具有高的滲透能力的主要參數(shù)有()。
對(duì)底片進(jìn)行評(píng)定時(shí),首先對(duì)底片進(jìn)行質(zhì)量檢查,不滿足要求的底片不予評(píng)定,質(zhì)量檢查項(xiàng)目有()。
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有()。