A.低
B.高
C.無(wú)影響
D.以上都不對(duì)
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A.不一定是檢出同尺寸裂紋的靈敏度
B.就是檢出同尺寸裂紋的靈敏度
C.是檢出同尺寸各種缺陷的靈敏度
D.以上都不對(duì)
A.深度
B.寬度
C.與射線束的角度
D.以上都對(duì)
A.得到的射線照片清晰度差
B.感光速度慢
C.對(duì)比度低
D.需要的曝光時(shí)間長(zhǎng)
A.光化反應(yīng)
B.氧化
C.自然衰變
D.污染
A.應(yīng)繼續(xù)添加補(bǔ)充液
B.該顯影液應(yīng)該報(bào)廢，而不應(yīng)無(wú)限制地添加補(bǔ)充液
C.無(wú)影響
D.以上都不對(duì)
最新試題
屬于γ射線探傷設(shè)備的操作故障有（）。
各種電氣設(shè)備都有各自的保護(hù)系統(tǒng)，X 射線機(jī)的保護(hù)系統(tǒng)主要有（）。
當(dāng)障礙物尺寸Df< < 波長(zhǎng)λ時(shí)，會(huì)出現(xiàn)以下（）等現(xiàn)象。
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有（）。
板波的類(lèi)型有（）。
金屬材料的基本力學(xué)行為是指金屬材料在不同載荷作用下產(chǎn)生一些現(xiàn)象，這種現(xiàn)象包括（）。
產(chǎn)生干涉的兩列相干波，在振動(dòng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生不同的波程差，波程差與波長(zhǎng)相關(guān)聯(lián)，所以不同的波程差會(huì)出現(xiàn)（）等現(xiàn)象。
底片靈敏度的檢查內(nèi)容包括像質(zhì)計(jì)（）要達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。
對(duì)底片進(jìn)行評(píng)定時(shí)，首先對(duì)底片進(jìn)行質(zhì)量檢查，不滿足要求的底片不予評(píng)定，質(zhì)量檢查項(xiàng)目有（）。
磁粉檢測(cè)用的黑光燈發(fā)出的光包含有（），而把不需要的光線用濾光片過(guò)濾掉。