A.高密度電阻率法
B.地質(zhì)雷達(dá)法
C.靜力觸探法
D.折射波法
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薄壁取土器適用的土層為（）。
A.硬塑黏性土
B.流塑黏性土
C.軟塑黏性土
D.砂土
A.土類定名
B.含水量
C.密度
D.強(qiáng)度試驗(yàn)
A.黏性土
B.砂土
C.碎石土
D.巖石
A.土的級(jí)配越好，滲透性越好
B.水力梯度越大，流速越大
C.滲透系數(shù)越小，流速越小
D.黏性土中的水力梯度小于臨界梯度時(shí)，流速為零
A.單棟高層建筑勘探點(diǎn)的布置，應(yīng)滿足對(duì)地基均勻性評(píng)價(jià)的要求，且不應(yīng)少于6個(gè)
B.對(duì)密集的高層建筑群，勘探點(diǎn)可適當(dāng)減少，但每棟建筑物至少應(yīng)有1個(gè)控制性勘探點(diǎn)
C.勘探孔深度應(yīng)能控制地基主要受力層，當(dāng)基礎(chǔ)底面寬度不大于5m時(shí)，勘探孔的深度對(duì)條形基礎(chǔ)不應(yīng)小于基礎(chǔ)底面寬度的3倍，對(duì)單獨(dú)柱基不應(yīng)小于1.5倍，且不應(yīng)小于5m
D.對(duì)高層建筑和需作變形計(jì)算的地基，控制性勘探孔的深度應(yīng)超過(guò)地基變形計(jì)算深度1倍
最新試題
勘探深度應(yīng)穿越滑動(dòng)面進(jìn)入穩(wěn)定地層3m 以上，（）勘探深度應(yīng)穿越滑動(dòng)面進(jìn)入穩(wěn)定地層（）m以上，且滿足滑坡治理需要。
每個(gè)地貌單元應(yīng)布置勘探點(diǎn)，在地貌單元交接部位和地層變化較大的地段，勘探點(diǎn)應(yīng)（），在地形平緩地區(qū)，可按（）布置勘探點(diǎn)。
建/構(gòu)筑工程進(jìn)行可行性研究勘察，當(dāng)搜集資料不能滿足要求時(shí)，可進(jìn)行（）和輔以少量的勘探、測(cè)試工作?？碧近c(diǎn)間距宜為200m～400m，勘探深度應(yīng)進(jìn)入穩(wěn)定地層或（）。
混合土勘探工作有經(jīng)驗(yàn)的地區(qū)，可以（）或超重型動(dòng)力觸探為主，輔以鉆探的綜合勘探方法，當(dāng)混合土作為基礎(chǔ)持力層時(shí)，鉆探應(yīng)采用植物膠護(hù)壁，巖芯采取率不應(yīng)低于（）%。
擬建場(chǎng)地或附近存在對(duì)工程安全有影響的巖溶、滑坡、危巖和崩塌、泥石流、采空區(qū)和活動(dòng)斷裂等不良地質(zhì)作用時(shí)，應(yīng)進(jìn)行（）。查明不良地質(zhì)作用類型、成因、規(guī)模和危害程度。提供治理所需的（），提出治理措施和監(jiān)測(cè)建議。
砂土應(yīng)描述顏色、礦物組成、（）、顆粒形狀、黏粒含量、濕度、（）等。
在軟土、砂層中宜采用（）；當(dāng)使用套管護(hù)壁時(shí)，應(yīng)保持管內(nèi)水位等于或稍高于地下水位，取樣位置應(yīng)低于套管底（）孔徑距離。
可行性研究階段勘察應(yīng)以收集資料、（）為主，輔以少量的勘探、取樣和（）工作。必要時(shí)可采用無(wú)人機(jī)傾斜攝影結(jié)合工程地質(zhì)測(cè)繪方法，查明擬建場(chǎng)地地形、地貌和地物分布現(xiàn)狀。
勘探手段宜采用鉆探、井探；采取土試樣宜在基礎(chǔ)下和基礎(chǔ)外側(cè)同時(shí)進(jìn)行，并應(yīng)布置一定數(shù)量的標(biāo)準(zhǔn)貫入試驗(yàn)、（）或旁壓試驗(yàn)等原位測(cè)試，有條件時(shí)應(yīng)進(jìn)行地基土的荷載試驗(yàn)，提供主要受力層的比例界限荷載、（）、變形模量和回彈模量。
巨粒土、粗粒土料宜選用（）、沖擊壓實(shí)法處理，其分層厚度、施工參數(shù)及夯實(shí)指標(biāo)應(yīng)根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)強(qiáng)夯單點(diǎn)夯擊試驗(yàn)或（）確定。