A.可全面觀察全口牙齒發(fā)育情況及上下頜骨情況
B.可用于研究顱面生長發(fā)育情況
C.可顯示上下牙的牙冠部
D.可顯示上頜前部全貌
E.可顯示下頜體和牙弓的橫斷面影像
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A.可用于檢查髁狀突及關(guān)節(jié)凹情況
B.可全面觀察全口牙齒發(fā)育情況及上下頜骨情況
C.可用于了解生長發(fā)育情況、評估生長發(fā)育的潛力
D.可顯示多生牙、缺失牙、阻生牙牙長軸傾斜、牙根有無根尖病變等
E.可用于研究顱面生長發(fā)育情況
A.牙弓擁擠度的測量和計算
B.牙弓寬度的測量
C.診斷排牙試驗
D.Moyers預(yù)測分析法
E.X線頭影測量
A.3~5mm
B.5~8mm
C.8mm以上
D.1~2mm
E.0~1mm
A.覆蓋為3~5mm
B.上前牙冠覆蓋下前牙超過冠1/3而不足1/2者
C.上前牙冠覆蓋下前牙超過冠1/2而不足2/3者
D.上前牙冠覆蓋下前牙超過冠2/3者
E.以上都不是
A.需要進(jìn)行牙、頜、面的一般檢查
B.對牙弓檢查時要進(jìn)行牙擁擠度測定
C.要檢查上下中切牙間的中線關(guān)系
D.詢問幼年時有無口腔不良習(xí)慣
E.無需詢問有無全身性疾病及鼻咽部疾病
最新試題
關(guān)于恒前牙和乳前牙的牙冠寬度差異量補(bǔ)償方法,下列說法錯誤的是()
Begg矯治器帶環(huán)頰面管的長度為()
關(guān)于上頜平面導(dǎo)板矯治器,敘述不正確的是()
在頜面發(fā)育的快速期中,第一恒磨牙萌出是第幾快速期()
安氏錯分類法的提出是在()
上頜斜面導(dǎo)板矯治器的導(dǎo)板與平面呈()
正常恒牙,上尖牙咬在下尖牙()
ICP又稱為()
顱面部生長發(fā)育型與下列因素有關(guān),除了()
關(guān)于Begg矯治器不正確的是()