A.玻璃膜外水化層與溶液產(chǎn)生的相間電位
B.玻璃膜內(nèi)側(cè)水化層與溶液產(chǎn)生的相間電位
C.跨越玻璃膜兩側(cè)溶液之間的電位差
D.玻璃電極的電位
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A.測(cè)NA+時(shí),產(chǎn)生“堿差”;測(cè)H+時(shí),產(chǎn)生“酸差”
B.測(cè)OH-時(shí),產(chǎn)生“堿差”;測(cè)H+時(shí),產(chǎn)生“酸差“
C.測(cè)定pH高時(shí),產(chǎn)生“堿差”;測(cè)定pH低時(shí),產(chǎn)生“酸差
D.測(cè)pOH時(shí),產(chǎn)生“堿差”;測(cè)pH時(shí),產(chǎn)生“酸差”
A.會(huì)產(chǎn)生鈉差
B.產(chǎn)生酸誤差
C.測(cè)得的pH值偏低
D.測(cè)得的pH值偏高
A.對(duì)特定離子呈Nernst響應(yīng)的敏感膜
B.內(nèi)參比電極
C.內(nèi)參比溶液
D.電極桿
A.固定溶液的離子強(qiáng)度
B.恒定溶液的pH值
C.掩蔽干擾離子
D.消除液接電位
A.消除溫度的影響
B.提高測(cè)定的靈敏度
C.扣除待測(cè)電池電動(dòng)勢(shì)與試液pH值關(guān)系式中的“K”
D.消除干擾離子的影響
最新試題
ICP光譜儀中的等離子炬管有三種氣體通過(guò),它們分別是()。
原子熒光光譜法制作工作曲線時(shí),相關(guān)系數(shù)應(yīng)至少達(dá)到()。
玻璃熔融-X熒光光譜法,目前大量應(yīng)用于鐵合金中主次元素的測(cè)定,含量范圍廣,其具有的特點(diǎn)是()。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測(cè)定過(guò)程中,陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用,無(wú)需任何預(yù)處理。
鋼鐵中以下元素能夠使用紅外線吸收法測(cè)量的是()。
原子吸收光譜測(cè)量的結(jié)果,只要線性好,平行好,結(jié)果準(zhǔn)確度就高。
ICP-AES方法與ICP-MS相比具有的缺點(diǎn)是()。
X射線熒光光譜分析中,分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感,一般要求晶體室溫度變化在()度內(nèi)。
紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池,高量程的池體短,相應(yīng)紅外光程短。
空氣-Ar-ICP的缺點(diǎn)是()。