A、tp=1+rp
B、R=rp2
C、D=1-rp2
D、以上都不對
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A、(Z2-Z1)/(Z1+Z2)
B、2Z2/(Z1+Z2)
C、4Z1×Z2/(Z1+Z2)2
D、[(Z2-Z1)/(Z1+Z2)]2
A、1/2波長的整數(shù)倍時(shí)
B、1/2波長的奇數(shù)倍時(shí)
C、1/4波長的奇數(shù)倍時(shí)
D、1/4波長的整數(shù)倍時(shí)
A、底波被較大的面積性缺陷反射
B、底波被較小的單個(gè)球狀缺陷反射
C、底波的能量被轉(zhuǎn)換為電能而吸收
D、以上都可能
A、3200和3200
B、3200和5900
C、5900和5900
D、以上都不對
A、特性
B、形狀
C、方向
D、以上都不對
最新試題
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng),即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
對于長條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。
渦流檢測線圈感應(yīng)和接收材料或零件中感生渦流的再生磁場的傳感器,它是構(gòu)成()系統(tǒng)的重要組成部分,對于檢測結(jié)果的好壞起著重要的作用。
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。
渦流檢測中的對比試樣的()和材質(zhì)相對被檢測產(chǎn)品必須具有代表性。
渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生()
磁性測厚技術(shù)包括機(jī)械式和()兩種測量方法。
渦流檢測線圈的自感式線圈由()構(gòu)成。
對于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。