A、管電流
B、管電壓
C、曝光時(shí)間
D、焦距
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、管電流
B、管電壓
C、曝光時(shí)間
D、焦距
A、射線太硬
B、顯影不足
C、顯影液陳舊失效
D、以上都對
A、源的強(qiáng)度
B、源的尺寸
C、源的使用時(shí)間
D、源的種類
A、質(zhì)量數(shù)相同,中子數(shù)不同的元素
B、質(zhì)量數(shù)不同,中子數(shù)相同的元素
C、質(zhì)子數(shù)相同,中子數(shù)不同的元素
D、中子數(shù)相同,質(zhì)子數(shù)不同的元素
A、電子
B、中子
C、質(zhì)子
D、原子
最新試題
直接射向缺陷的波就是()
在遠(yuǎn)場區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()
渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測量()測量功能的通用型儀器。
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
鑄件超聲檢測的特點(diǎn)是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應(yīng)的可檢缺陷尺寸()
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的()