用劈尖干涉法可檢測工件表面缺陷,當波長為λ的單色平行光垂直入射時,若觀察到的干涉條紋如圖所示,每一條紋彎曲部分的頂點恰好與其左邊條紋的直線部分的連線相切,則工件表面與條紋彎曲處對應的部分應:()
A.凸起,且高度為λ/4
B.凸起,且高度為λ/2
C.凹陷,且深度為λ/2
D.凹陷,且深度為λ/4
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用波長為λ的單色光垂直照射到空氣劈尖上,從反射光中觀察干涉條紋,距頂點為L處是暗條紋。使劈尖角θ連續(xù)變大,直到該點處再次出現(xiàn)暗條紋為止(見圖)。則劈尖角的改變量△θ是:()
A.λ/(2L)
B.λ/L
C.2λ/L
D.λ/(4L)
兩塊平玻璃構(gòu)成空氣劈尖,左邊為棱邊,用單色平行光垂直入射。若上面的平玻璃慢慢地向上平移,則干涉條紋如何變化?()
A.向棱邊方向平移,條紋間隔變小
B.向棱邊方向平移,條紋間隔變大
C.向棱邊方向平移,條紋間隔不變
D.向遠離棱邊的方向平移,條紋間隔不變
A.干涉圖樣不變
B.干涉圖樣下移
C.干涉圖樣上移
D.不產(chǎn)生干涉條紋
A.λ/4
B.λ/(4n)
C.λ/2
D.λ/(2n)
A.L=3λ/2,△φ=3π
B.L=3λ/(2n),△φ=3nπ
C.L=3λ/(2n),△φ=3π
D.L=3nλ/2,△φ=3nπ
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如果兩個偏振片堆疊在一起,且偏振化方向之間夾角呈30°,假設二者對光無吸收,光強為I0的自然光垂直入射在偏振片上,則出射光強為:()
在單縫夫瑯和費衍射實驗中,屏上第三級暗紋對應的縫間波陣面,可劃分為半波帶數(shù)目為:()
在雙縫干涉實驗中,兩縫間距離為d,雙縫與屏幕之間的距離為()
為了提高光學儀器的分辨本領,通常可以采用的措施有:()
三個偏振片P1、P2與P3堆疊在一起,P1與P3的偏振化方向相互垂直,P2與P1的偏振化方向間的夾角為30°。強度為I0的自然光垂直入射于偏振片P1,并依次透過偏振片P1、P2與P3,則通過三個偏振片后的光強為:()
波長為λ的單色平行光垂直入射到一狹縫上,若第一級暗紋的位置對應的衍射角為θ=±π/6,則縫寬的大小為:()
一束波長為λ的單色光由空氣垂直入射到折射率為n的透明薄膜上,透明薄膜放在空氣中,要使反射光得到干涉加強,則薄膜最小的厚度為:()
ABCD為一塊方解石的一個截面,AB為垂直于紙面的晶體平面與紙面的交線。光軸方向在紙面內(nèi)且與AB成一銳角θ,如圖所示。一束平行的單色自然光垂直于AB端面入射。在方解石內(nèi)折射光分解為o光和e光,關(guān)于o光和e光的關(guān)系,下列敘述正確的是?()
用一臺顯微鏡來觀察細微物體時,應作出下列哪種選擇?()
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