多項(xiàng)選擇題測(cè)量介損不能發(fā)現(xiàn)的缺陷有（）

A.大容量設(shè)備的局部缺陷
B.非穿透性的局部損壞
C.很小部分絕緣的老化劣化
D.個(gè)別的絕緣弱點(diǎn)


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1.多項(xiàng)選擇題測(cè)量介損角能有效發(fā)現(xiàn)的缺陷有（）

A.整體性受潮和小電容試品嚴(yán)重局部缺陷
B.絕緣整體受潮和穿透性導(dǎo)電通道
C.絕緣老化劣化，繞組上附積油泥
D.絕緣內(nèi)含氣泡的電離、絕緣分層、脫殼

2.多項(xiàng)選擇題屬于局部放電試驗(yàn)中非電的測(cè)量方法有（）

A.射頻檢測(cè)法、無(wú)限電干擾電壓法、超高頻檢測(cè)法
B.化學(xué)分析法
C.光檢測(cè)法
D.噪聲檢測(cè)法

3.多項(xiàng)選擇題關(guān)于預(yù)防性試驗(yàn)，以下說(shuō)法正確的是（）

A.測(cè)量泄漏電流的方法有微安表直讀法
B.絕緣電阻一般用兆歐表
C.測(cè)量介質(zhì)損耗角正切值的方法有西林電橋
D.測(cè)量吸收比用兆歐表

4.多項(xiàng)選擇題關(guān)于直流高電壓試驗(yàn)的特點(diǎn)，下面說(shuō)法不正確的是（）

A.加壓時(shí)間較長(zhǎng)一般采用5~10min
B.直流高壓下，局部放電弱，破壞性弱（最小）
C.直流電壓的電壓強(qiáng)度高于交流，故交流設(shè)備做直流耐壓試驗(yàn)需要降低電壓等級(jí)
D.跟設(shè)備實(shí)際情況不一樣，不夠準(zhǔn)確，只用于被試品的電容量很大的場(chǎng)合
E.試驗(yàn)后對(duì)試品和濾波電容的充分放電
F.適用于任何電氣設(shè)備

5.多項(xiàng)選擇題

如圖根據(jù)實(shí)驗(yàn)繪制出的泄露電流與所加電壓的波形，從圖中曲線可以得到的結(jié)論是（）

A.曲線1對(duì)應(yīng)絕緣電阻大，絕緣良好
B.曲線2對(duì)應(yīng)絕緣整體受潮，絕緣電阻變小
C.曲線3、曲線4對(duì)應(yīng)絕緣中有集中性缺陷