A、在規(guī)定的測(cè)量條件下多次測(cè)量同一被測(cè)量,從所得測(cè)量結(jié)果與計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)所復(fù)現(xiàn)的量值之差可以發(fā)現(xiàn)并得到恒定的系統(tǒng)誤差的估計(jì)值
B、在規(guī)定的測(cè)量條件下多次測(cè)量同一被測(cè)量,從所得測(cè)量結(jié)果與計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)所復(fù)現(xiàn)的量值之差可以發(fā)現(xiàn)并得到恒定的系統(tǒng)誤差的真值
C、在測(cè)量條件改變時(shí),多次測(cè)量同一被測(cè)量,從所得測(cè)量結(jié)果與計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)所復(fù)現(xiàn)的量值之差可以發(fā)現(xiàn)并得到恒定的系統(tǒng)誤差的估計(jì)值
D、在測(cè)量條件改變時(shí),多次測(cè)量同一被測(cè)量,從所得測(cè)量結(jié)果與計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)所復(fù)現(xiàn)的量值之差可以發(fā)現(xiàn)并得到恒定的系統(tǒng)誤差的真值
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A、0.00062μm
B、0.015μm
C、0.0087μm
D、0.00036μm
A、測(cè)量列不存在異常值
B、0.91是正常值
C、0.76是異常值
D、測(cè)量列存在異常值
A、計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器或參量名稱(chēng)+標(biāo)準(zhǔn)裝置
B、被檢或被校計(jì)量器具或參量名稱(chēng)+檢定或校準(zhǔn)裝置
C、計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器名稱(chēng)+標(biāo)準(zhǔn)器(或標(biāo)準(zhǔn)器組)
D、檢定或校準(zhǔn)+被檢或被校計(jì)量器具名稱(chēng)+標(biāo)準(zhǔn)器組
A、±0.01%
B、±0.05%
C、±0.1%
D、±0.5%
A、+0.01V
B、+1%
C、-0.01V
D、-1%
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