單項選擇題半圓試塊的主要用途()。

A.測定斜探頭入射點
B.調(diào)整探測范圍和掃描速度
C.調(diào)節(jié)探傷靈敏度
D.以上都對


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超聲波在圓柱內(nèi)反射,如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波,返回探頭接收,會形成等邊的三角形遲到回波。

題型:判斷題

當探頭的性能不佳時出現(xiàn)兩個主聲束,發(fā)現(xiàn)缺陷時很難判斷是哪個主聲束發(fā)現(xiàn)的,因此也就難以確定缺陷的實際位置。

題型:判斷題

非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小,聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點和氣孔等缺陷。

題型:判斷題

衍射時差法對缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。

題型:判斷題

無論聲波相對于缺陷是垂直入射還是斜入射,缺陷大小不同其反射波的指向性有相當大的差異。

題型:判斷題

動態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。

題型:判斷題

根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計算公式與圓柱形平面反射體的表達式進行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。

題型:判斷題

衍射時差法對缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測量精確,實時成像,快速分析。

題型:判斷題

缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準反射體聲壓之比。

題型:判斷題

儀器時基線比例一般在試塊上調(diào)節(jié),當工件與試塊的聲速不同時,儀器的時基線比例發(fā)生變化,影響缺陷定位精度。

題型:判斷題