判斷題面積相同,頻率相同的圓晶片和方晶片的聲束指向角相同。
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最新試題
軟保護膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。
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檢測面準備的目的是為了保證良好的聲耦合。
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“靈敏度”意味著發(fā)現小缺陷的能力,因此超聲波探傷靈敏度越高越好。
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縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波,又有橫波,因此可同時用縱波和橫波進行缺陷檢測。
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斜探頭前部磨損較多時,探頭的K值將變小。
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橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。
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底波高度法經常作為缺陷回波法的一種輔助手段。
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測定“始脈沖寬度”時,應將儀器的靈敏度調至最大。
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CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。
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雙晶直探頭傾角越大,交點離探測面距離愈遠,覆蓋區(qū)愈大。
題型:判斷題