判斷題直探頭的壓電晶片發(fā)射縱波，斜探頭的壓電晶片發(fā)射橫波、表面波或板波。
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當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。
題型：判斷題
斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。
題型：判斷題
橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。
題型：判斷題
多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。
題型：判斷題
實(shí)際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。
題型：判斷題
脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。
題型：判斷題
縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測。
題型：判斷題
工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。
題型：判斷題
所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。
題型：判斷題
穿透法靈敏度高于脈沖反射法。
題型：判斷題