判斷題標準試塊的材質(zhì)應盡可能與被檢工件相同或相近。
您可能感興趣的試卷
最新試題
實際探傷中,為提高掃查速度,減少雜波的干擾,應將探傷靈敏度適當降低。
題型:判斷題
單探頭法是反射法,雙探頭法都是穿透法。
題型:判斷題
與IIW試塊相比,CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。
題型:判斷題
當量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。
題型:判斷題
雙晶直探頭傾角越大,交點離探測面距離愈遠,覆蓋區(qū)愈大。
題型:判斷題
串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。
題型:判斷題
脈沖重復頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān),對厚度大的工件,應采用較低的重復頻率。
題型:判斷題
CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。
題型:判斷題
盲區(qū)與始波寬度是同一概念。
題型:判斷題
“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力,因此超聲波探傷靈敏度越高越好。
題型:判斷題