最新試題
方圈法測(cè)量無取向電工鋼，組成試樣的樣片數(shù)應(yīng)是（）的倍數(shù)。
硫印檢驗(yàn)是用硫酸溶液浸泡過的相紙緊密接觸鋼的檢驗(yàn)面，檢驗(yàn)面析出的硫化氫使感光乳劑的鹵化銀轉(zhuǎn)變?yōu)榱蚧y而（），顯示出硫的富集區(qū)域。
單片法測(cè)量無取向電工鋼，試樣基準(zhǔn)方向與軋制方向的夾角允許有下述公差：取向硅鋼片為（）。
奧氏體晶粒度的腐蝕可用（）的鹽酸酒精。
測(cè)量脫碳層時(shí)，對(duì)于直徑大于25mm的圓鋼，或邊長(zhǎng)大于（）的方鋼，可截取試樣同一截面的幾個(gè)部分，但一定要取有代表性的部分。
變形速度對(duì)下列哪個(gè)性能的測(cè)試結(jié)果沒有影響（）。
游離滲碳體評(píng)級(jí)圖分為A、B、C三個(gè)系列，每個(gè)系列（）級(jí)別。
沖擊試樣的缺口方向是指（）。
杯突試驗(yàn)原理是將一個(gè)端部為球形的沖頭對(duì)著一個(gè)被夾緊在墊模和壓模內(nèi)的試樣進(jìn)行沖壓形成一個(gè)凹痕，直到出現(xiàn)一條穿透（）。
作為鍍錫板鍍錫量檢驗(yàn)的仲裁法是（）。