判斷題JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：當辯認細小缺陷磁痕時應用2～10倍放大鏡進行觀察。
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采用濕法時，應確認整個檢測面被磁懸液濕潤后，再施加磁懸液。
題型：判斷題
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：剩磁應不大于0.3mT（240A/m）。
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磁粉檢測，所有的磁痕尺寸、數(shù)量和產(chǎn)生部位均應記錄并圖示。
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剩磁法不能用于干法檢測。
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組合裝配件應分解后再進行磁粉檢測。
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用連續(xù)法檢測時，檢測靈敏度不僅與被檢工件表面磁場強度有關(guān)，還受被檢工件材質(zhì)的影響。
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標準試塊主要用于檢驗磁粉檢測的系統(tǒng)靈敏度，確定被檢工件的磁化規(guī)范。
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相關(guān)顯示是由漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示。
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JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：檢測后加熱至600℃以上進行熱處理的工件，一般可不進行退磁。
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JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：采用軸向通電法和觸頭法磁化時，為了防止電弧燒傷工件表面，應將工件和電極接觸部分清除干凈或在電極上安裝非導電物質(zhì)。
題型：判斷題