A.斜率
B.大小
C.曲率
D.坐標(biāo)
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A.測量裝置、激勵(lì)裝置和標(biāo)定裝置
B.激勵(lì)裝置、傳感器和放大裝置
C.測量裝置、反饋裝置和標(biāo)定裝置
D.傳感器、放大裝置和記錄裝置
A.三角波信號(hào)
B.余弦信號(hào)
C.正弦信號(hào)
D.階躍信號(hào)
A.1
B.2
C.3
D.4
A.零階
B.一階
C.二階
D.高階
A.和
B.差
C.乘積
D.卷積
最新試題
電容近炸引信是利用引信電極遇到目標(biāo)時(shí),產(chǎn)生的電容變化的信息控制引信起爆的一種引信,采用的是()型電容式傳感器。
系統(tǒng)備選測試集中可能存在冗余測試,需要選擇最優(yōu)的測試組合,這種過程稱為()。
目前大多數(shù)自動(dòng)測試系統(tǒng)采用的,通過總線連接外接儀器的測試系統(tǒng)形式是()型。
應(yīng)變片的核心部分是()。
自動(dòng)測試系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)中,單路輸出結(jié)構(gòu)應(yīng)包括()、()和()這幾個(gè)部分,最后信號(hào)送到儀表或執(zhí)行機(jī)構(gòu)。
LabVIEW的()模板主要提供各種用于創(chuàng)建、修改和調(diào)試VI程序的工具。
自動(dòng)測試系統(tǒng)的核心是()。
VXI總線具有()。
故障隔離時(shí)間是指從開始隔離故障到指出有故障的()所經(jīng)歷的時(shí)間。
自動(dòng)測試系統(tǒng)的單通道輸入結(jié)構(gòu)中的輸入電路應(yīng)包括()等部分。