A.井徑規(guī)則
B.純砂巖段
C.曲線變化明顯
D.測(cè)量井段上部
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A.儀器下放井底前先在測(cè)量井段上部測(cè)量
B.儀器下放井底前先在測(cè)量井段下部測(cè)量
C.主曲線測(cè)完后在測(cè)量井段上部測(cè)量
D.主曲線測(cè)完后在測(cè)量井段下部測(cè)量
A.10
B.20
C.25
D.50
A.1500
B.2000
C.2500
D.4000
A.測(cè)速和磁記號(hào)
B.測(cè)速和時(shí)間標(biāo)記
C.磁記號(hào)和張力曲線
D.測(cè)速、張力曲線、時(shí)間標(biāo)記和磁記號(hào)
A.幅度變小，半幅點(diǎn)上移
B.幅度變小，半幅點(diǎn)下移
C.幅度變大，半幅點(diǎn)上移
D.幅度變大，半幅點(diǎn)下移
最新試題
利用多極子聲波測(cè)井可以更好地獲得硬地層和軟地層的縱波、橫波和（）等特征參數(shù)。
在薄互層中，泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層（）。
多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似，縱波時(shí)差重復(fù)曲線與主測(cè)井曲線形狀相同，重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于（）。
微電阻率電成像反映地層特征（裂縫、溶洞、層界面等）清晰，與聲成像具有（）。
井壁微電阻率掃描成像儀極板和井壁的間隙增大會(huì)（）儀器的垂向分辨率。
核磁共振測(cè)井觀察的原子核具有選擇性，觀測(cè)地層流體中的（）。
在相同的外加磁場(chǎng)中，不同的原子核的進(jìn)動(dòng)頻率（）。
平移斷層斷層面一般較陡，可以是平直的，也可以是彎曲的。平移斷層在剖面上（）。
簡(jiǎn)述VSP 測(cè)井影響因素。
當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí)，孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的絕對(duì)誤差小于（）。