單項(xiàng)選擇題40臂井徑儀一次下井可以獲得套管最小內(nèi)徑和()兩條曲線。

A.外徑
B.剩余壁厚
C.井溫
D.磁定位


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2.單項(xiàng)選擇題40臂井徑儀可適用于()套管井測(cè)量。

A.4in
B.5in
C.6in
D.7in

3.單項(xiàng)選擇題多臂井徑儀是用于確定()的測(cè)井儀器。

A.孔隙度
B.巖性
C.儲(chǔ)層評(píng)價(jià)
D.套管質(zhì)量

4.單項(xiàng)選擇題40臂井徑儀的每個(gè)探測(cè)臂靠()支撐始終緊貼套管壁。

A.滑鍵
B.彈片
C.螺桿
D.護(hù)蓋

5.單項(xiàng)選擇題磁性定位測(cè)井曲線是反映()內(nèi)的套管、油管接箍的測(cè)井曲線。

A.裸眼井
B.套管井
C.開發(fā)井
D.探井

最新試題

井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí),發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的,與介質(zhì)的電阻率()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

平移斷層斷層面一般較陡,可以是平直的,也可以是彎曲的。平移斷層在剖面上()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

常規(guī)測(cè)井評(píng)價(jià)復(fù)雜巖性儲(chǔ)層存在的難點(diǎn)有哪些?

題型:?jiǎn)柎痤}

超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、()、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

井壁微電阻率掃描成像儀極板和井壁的間隙增大會(huì)()儀器的垂向分辨率。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

影響核磁共振測(cè)井的主要因素包括()、孔隙流體及巖石的潤(rùn)濕性和地層磁化率差異。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

VSP 測(cè)井是一種高分辨率的()勘探技術(shù)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

()古潛山是指一定地質(zhì)時(shí)期由褶皺作用形成的古山頭,潛山本身就是一個(gè)背斜。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

非彈性—俘獲模式主要記錄的地層信息有哪些?

題型:?jiǎn)柎痤}

多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似,縱波時(shí)差重復(fù)曲線與主測(cè)井曲線形狀相同,重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題