單項(xiàng)選擇題測(cè)井曲線深度校正自動(dòng)化的關(guān)鍵在于以相關(guān)對(duì)比法為基礎(chǔ)，確定（）。

A.深度的移動(dòng)量
B.標(biāo)準(zhǔn)曲線
C.校正點(diǎn)
D.關(guān)鍵層


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2.單項(xiàng)選擇題室內(nèi)解釋人員一般進(jìn)行的深度校正不包括（）的校正。

A.絕對(duì)深度
B.相對(duì)深度
C.斜井垂直深度
D.水平井垂直深度

3.單項(xiàng)選擇題水平井的校正與（）的校正比較接近。

A.絕對(duì)深度
B.相對(duì)深度
C.斜井垂直深度
D.絕對(duì)—相對(duì)深度

4.單項(xiàng)選擇題測(cè)井曲線的深度校正內(nèi)容不包括的（）的校正。

A.絕對(duì)深度
B.相對(duì)深度
C.斜井垂直深度
D.自動(dòng)深度

5.單項(xiàng)選擇題測(cè)井曲線的深度校正內(nèi)容包括（）和斜井垂直深度的校正。

A.絕對(duì)深度、相對(duì)深度
B.人工深度
C.儀器的深度
D.相對(duì)深度

最新試題

泥漿濾液的侵入使孔隙流體發(fā)生了改變，當(dāng)濾液中含有順磁物質(zhì)時(shí)會(huì)（）橫向弛豫時(shí)。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

核磁共振測(cè)井時(shí)，當(dāng)?shù)貙涌紫抖炔恍∮?5%時(shí)，孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的相對(duì)誤差（）10%。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、（）、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

在薄互層中，泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

簡(jiǎn)述如何根據(jù)聲電成像測(cè)井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。

題型：?jiǎn)柎痤}

井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí)，發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的，與介質(zhì)的電阻率（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

VSP 測(cè)井是一種高分辨率的（）勘探技術(shù)。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

井壁微電阻率掃描成像儀器的電扣越小，分辨率（），井壁電阻率掃描圖像越清晰。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

簡(jiǎn)述VSP 測(cè)井影響因素。

題型：?jiǎn)柎痤}

當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí)，孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的絕對(duì)誤差小于（）。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題