A.標(biāo)準(zhǔn)水層孔隙度和電阻率
B.自然電位
C.自然伽馬
D.地層水礦化度
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A.1.5~2.2
B.1.0~4.3
C.1.5~2.0
D.1.0~2.2
A.流體性質(zhì)
B.束縛水飽和度
C.孔隙類(lèi)型
D.流體在孔隙中的分布狀況
A.I=0,I>1
B.I<1,I>1
C.I=1,I<1
D.I=1,I>1
A.1.6
B.8
C.5
D.2
A.含水飽和度
B.孔隙度
C.滲透率
D.泥質(zhì)含量
最新試題
VSP 測(cè)井是一種高分辨率的()勘探技術(shù)。
()古潛山是指一定地質(zhì)時(shí)期由褶皺作用形成的古山頭,潛山本身就是一個(gè)背斜。
微電阻率成像測(cè)井無(wú)效(壞)電極數(shù)不應(yīng)超過(guò)()。
微電阻率成像三井徑曲線(xiàn)變化正常,除橢圓井眼外,在井眼規(guī)則處應(yīng)()。
井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí),發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線(xiàn)總是相似的,與介質(zhì)的電阻率()。
當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí),孔隙度曲線(xiàn)重復(fù)測(cè)量值的絕對(duì)誤差小于()。
非彈性—俘獲模式主要記錄的地層信息有哪些?
多極子陣列聲波測(cè)井首波波至?xí)r間曲線(xiàn)變化形態(tài)應(yīng)()。
電容法持水率計(jì)的現(xiàn)場(chǎng)刻度要求是什么?
簡(jiǎn)述如何根據(jù)聲電成像測(cè)井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。