A.伽馬測(cè)井
B.中子測(cè)井
C.密度測(cè)井
D.聲波測(cè)井
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A.射孔位置
B.腐蝕
C.變形
D.磨損
A.射孔段
B.腐蝕
C.變形
D.磨損
A.套管變形
B.套管腐蝕
C.套管磨損
D.套管積蠟
A.最大井徑大于最小井徑
B.最大井徑小于最小井徑
C.最大井徑等于最小井徑
D.最大井徑不等于最小井徑
A.最大半徑小于套管標(biāo)稱半徑
B.最大半徑大于套管標(biāo)稱半徑
C.最小半徑小于套管標(biāo)稱半徑
D.最小半徑大于套管標(biāo)稱半徑
最新試題
當(dāng)偶極子聲源在井內(nèi)振動(dòng)時(shí),井壁附近產(chǎn)生撓曲波,它是一種()。
微電阻率成像測(cè)井按井眼條件選擇扶正器,測(cè)井時(shí)極板壓力()。
多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似,縱波時(shí)差重復(fù)曲線與主測(cè)井曲線形狀相同,重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于()。
核磁共振測(cè)量結(jié)果幾乎不受()影響。
簡(jiǎn)述VSP 測(cè)井影響因素。
在薄互層中,泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層()。
井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí),發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的,與介質(zhì)的電阻率()。
當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí),孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的絕對(duì)誤差小于()。
核磁共振測(cè)井觀察的原子核具有選擇性,觀測(cè)地層流體中的()。
平移斷層斷層面一般較陡,可以是平直的,也可以是彎曲的。平移斷層在剖面上()。