A.雙晶直探頭
B.縱波直探頭
C.表面波探頭
D.雙晶斜探頭
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.壓電應(yīng)變常數(shù)
B.壓電電壓常數(shù)
C.介電常數(shù)
D.機(jī)械品質(zhì)因子
A.壓電應(yīng)變常數(shù)
B.壓電電壓常數(shù)
C.介電常數(shù)
D.機(jī)械品質(zhì)因子
A.避免在靠近強(qiáng)磁場(chǎng)、有強(qiáng)烈振動(dòng)的場(chǎng)合使用儀器
B.儀器工作時(shí)防止雨、雪、水、機(jī)油進(jìn)入儀器內(nèi)部
C.放電后的蓄電池應(yīng)及時(shí)充電
D.氣候潮濕地區(qū)或季節(jié),長(zhǎng)期不用應(yīng)定期開(kāi)機(jī),開(kāi)機(jī)時(shí)間約10min
A.掃描電路
B.接收電路
C.同步電路
D.發(fā)射電路
A.超聲檢測(cè)儀通過(guò)產(chǎn)生電振蕩并加于超聲波探頭上,激勵(lì)探頭晶片振動(dòng)發(fā)射超聲波
B.超聲檢測(cè)儀可將探頭送回的電信號(hào)進(jìn)行放大,通過(guò)一定形式顯示出來(lái)
C.超聲檢測(cè)儀可以得到被探測(cè)工件表面及內(nèi)部有無(wú)缺陷及缺陷位置和大小
D.超聲檢測(cè)儀是超聲檢測(cè)的主體設(shè)備
最新試題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。