A.水平線性、垂直線性、動(dòng)態(tài)范圍
B.頻帶寬度、探測(cè)寬度、重復(fù)頻率
C.靈敏度余量、盲區(qū)、分辨率
D.入射點(diǎn)、進(jìn)場(chǎng)長(zhǎng)度、擴(kuò)散角
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你可能感興趣的試題
A.分辨率
B.指向性和近場(chǎng)長(zhǎng)度
C.折射角和入射角
D.指示長(zhǎng)度
A.A掃描顯示
B.B掃描顯示
C.C掃描顯示
D.以上都不是
A.A掃描顯示
B.B掃描顯示
C.C掃描顯示
D.以上都不是
A.A顯示
B.B顯示
C.C顯示
D.三維顯示
A.檢測(cè)效率高
B.幾乎適用于所有材料
C.缺陷顯示直觀
D.容易判斷缺陷的性質(zhì)
最新試題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。