A. 打掃后采集表層5 cm土樣
B. 打掃后采集表層20 cm土樣
C. 采樣點(diǎn)數(shù)不少于3個(gè)
D. 采樣點(diǎn)數(shù)不少于5個(gè)
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A. 大氣污染型土壤監(jiān)測(cè)單元采用均勻布點(diǎn)
B. 固體廢物堆污染型土壤監(jiān)測(cè)單元以污染源為中心放射狀布點(diǎn)
C. 農(nóng)用化學(xué)物質(zhì)污染型土壤監(jiān)測(cè)單元以污染源為中心放射狀布點(diǎn)
D. 綜合污染型土壤監(jiān)測(cè)單元布點(diǎn)采用綜合放射狀、均勻、帶狀布點(diǎn)法
A.采樣時(shí)間
B.采樣地點(diǎn)
C.監(jiān)測(cè)項(xiàng)目
D.采樣深度
A. 采樣點(diǎn)選在地形相對(duì)平坦、穩(wěn)定、植被良好的地點(diǎn)
B. 城鎮(zhèn)、住宅、道路、溝渠、糞坑、墳?zāi)垢浇忍幉灰嗽O(shè)采樣點(diǎn)
C. 采樣點(diǎn)離鐵路、公路至少200m以上
D. 在水土流失嚴(yán)重處設(shè)采樣點(diǎn)
A. 面積較小的土壤污染調(diào)查
B. 面積較大的土壤污染調(diào)查
C. 突發(fā)性土壤污染事故調(diào)查
D. 持續(xù)性土壤污染事故調(diào)查
A. 簡(jiǎn)單隨機(jī)
B. 分塊隨機(jī)
C. 抽簽隨機(jī)
D. 系統(tǒng)隨機(jī)
最新試題
根據(jù)《土壤環(huán)境監(jiān)測(cè)技術(shù)規(guī)范》（HJ/T 166-2004），土壤背景值是指很少受人類活動(dòng)影響和不受或未明顯受現(xiàn)代工業(yè)污染與破壞時(shí)，土壤原來(lái)固有的化學(xué)組成的元素含量水平。
根據(jù)《場(chǎng)地環(huán)境監(jiān)測(cè)技術(shù)導(dǎo)則》（HJ 25.2-2014），深層土壤樣品的采集可采用（）的方式進(jìn)行。
根據(jù)《場(chǎng)地環(huán)境監(jiān)測(cè)技術(shù)導(dǎo)則》（HJ 25.2-2014），場(chǎng)地環(huán)境調(diào)查初步采樣監(jiān)測(cè)采樣深度應(yīng)扣除地表非土壤硬化層厚度，原則上建議（），具體間隔可根據(jù)實(shí)際情況適當(dāng)調(diào)整。
根據(jù)《土壤環(huán)境監(jiān)測(cè)技術(shù)規(guī)范》（HJ/T 166-2004），建設(shè)項(xiàng)目土壤環(huán)境評(píng)價(jià)監(jiān)測(cè)采樣中，非機(jī)械干擾土的監(jiān)測(cè)可采混合樣。
根據(jù)《土壤環(huán)境監(jiān)測(cè)技術(shù)規(guī)范》（HJ/T 166-2004），梅花點(diǎn)法適用于面積較小、地勢(shì)平坦、土壤不夠均勻的地塊。
根據(jù)《土壤環(huán)境監(jiān)測(cè)技術(shù)規(guī)范》（HJ/T 166-2004），對(duì)于城市土壤，一般分三層采樣：表層（0～20cm），中層（20～60cm），深層（60～100cm）。
對(duì)照監(jiān)測(cè)點(diǎn)位應(yīng)盡量選擇未裸露的土壤，采集表層土壤樣品，采樣深度盡可能與場(chǎng)地表層土壤采樣深度相同。
根據(jù)《場(chǎng)地環(huán)境監(jiān)測(cè)技術(shù)導(dǎo)則》（HJ 25.2-2014），系統(tǒng)隨機(jī)布點(diǎn)法是將監(jiān)測(cè)區(qū)域分成面積相等的若干地塊，從中隨機(jī)抽取一定數(shù)量的地塊，隨機(jī)數(shù)的獲得可以利用（）的方法。
假如場(chǎng)地土壤污染特征不明確或場(chǎng)地原始狀況嚴(yán)重破壞，可采用系統(tǒng)隨機(jī)布點(diǎn)法進(jìn)行監(jiān)測(cè)點(diǎn)位布設(shè)。
分區(qū)布點(diǎn)法是將監(jiān)測(cè)區(qū)域分成面積相等的若干地塊，每個(gè)地塊內(nèi)布設(shè)一個(gè)監(jiān)測(cè)點(diǎn)位。