A. 測量系統(tǒng)的偏倚＝測量值－真值（或約定真值）
B. TV（總變差）2＝EV（測量設(shè)備的變差）2＋PV（零件的變差）2
C. GRR（測量系統(tǒng)變差）2＝EV（測量設(shè)備的變差）2＋AV（評價(jià)人的變差）2
D. ndc（區(qū)別分類數(shù)）＝1.41*（PV/GRR）
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A.重復(fù)性
B.偏倚
C.穩(wěn)定性
D.線性
E.再現(xiàn)性
A.分辨力
B.最大允許誤差
C.測量范圍
D.重量
E.長度
A.零件的變差
B.測量人內(nèi)部變差
C.測量儀器的變差
D.測量環(huán)境導(dǎo)致的變差
最新試題
若測量系存在偏倚，可對其進(jìn)行軟體或硬體修正。（）
在實(shí)施測量系統(tǒng)分析時(shí)，在得到顧客許可的情況下，工廠可以開發(fā)并使用自己的分析方法。
雙性分析時(shí)要求均值圖和極差圖所有的點(diǎn)都要落在控制限之內(nèi)。（）
量具R&R（交叉）研究可確定測量系統(tǒng)區(qū)分部件的能力高低，以及當(dāng)每個(gè)操作員多次測量每個(gè)部件時(shí)，有多少變異是由于測量系統(tǒng)導(dǎo)致的。（）
偏倚分析設(shè)定參考值時(shí)，可人為約定。（）
雙性分析時(shí)需隨機(jī)挑選10個(gè)合格樣件。（）
測量系統(tǒng)的變差可能對哪些決策產(chǎn)能影響？（）
類型1量具研究可使用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)作為測量對象，公差選用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的公差進(jìn)行評價(jià)。（）
測量系統(tǒng)的變差來源可能是（）。
MSA主要目的是分析測量系統(tǒng)的變差以及測量系統(tǒng)相對與產(chǎn)品規(guī)范或過程變差的可接受程度。