A. 機(jī)電耦合系數(shù)K較大，以便獲得較高的轉(zhuǎn)換效率，壓電電壓常數(shù)g33 和壓電應(yīng)變常數(shù)d33較大
B. 機(jī)械品質(zhì)因子θm 較小，以便獲得較高分辨力和較小的盲區(qū)
C. 頻率常數(shù)Nt較大， 介電常數(shù)ε較小，以便獲得較高的頻率
D. 以上都是
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A. 對接焊縫
B. 無縫鋼管
C. 鍛件和板材
D. 以上都是
A. 晶片
B. 阻尼塊
C. 保護(hù)膜
D. 隔聲層
A. 接觸式探頭和液浸探頭
B. 縱波探頭和橫波探頭
C. 聚焦探頭和非聚焦探頭
D. 單晶探頭和雙晶探頭
A. 機(jī)電耦合系數(shù)K
B. 介電常數(shù)ε
C. 壓電電壓常數(shù)g33
D. 壓電應(yīng)變常數(shù)d33
A.控制和接收信號處理和顯示采用數(shù)字化
B.頻帶寬
C.可記錄存貯信號
D.儀器有計(jì)算和距離波幅曲線自動生成
最新試題
用2.5P20Z探頭檢測厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm ， （1）如用試塊（衰減可忽略）上的深200mm ，Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測靈敏度（400/Ф2），兩者的波高差為多少？ （2）如果用厚度為200mm的試塊（鍛件與試塊衰減系數(shù)相同，耦合差為5dB）底波調(diào)節(jié)檢測靈敏度（400/Ф2），兩者反射波高差為多少？
用2.5P14Z探頭檢測某鍛件，發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB，另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2，檢測總面積為0.5米×0.5米，同時發(fā)現(xiàn)一單個缺陷，當(dāng)量為Φ4+10dB，試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評定此鍛件等級。
用2.5P20Z直探頭檢測厚400mm的鋼鍛件（CL=5900m/s ） ，檢測靈敏度校準(zhǔn)（400/Ф2）后進(jìn)行檢測，發(fā)現(xiàn)在250mm處有一缺陷，缺陷波幅比基準(zhǔn)波幅高30dB，求此缺陷當(dāng)量？
對厚度40mm的鋼板用水浸二次重合法檢測，用鋼試塊按1 ： 2 調(diào)節(jié)儀器的掃描速度并校正“0”點(diǎn)，求： （1）水層厚度為多少？ （2）如鋼板中距上表面12mm深度處存在缺陷，則缺陷回波的水平刻度值應(yīng)為多少？ （3）示波屏上τf2= 50處出現(xiàn)缺陷回波，求缺陷距鋼板上表面的深度？
在厚度T=200mm的試塊上校準(zhǔn)縱波掃描速度，若B2對準(zhǔn)50 ， B4對準(zhǔn)100 。計(jì)算這時的掃描速度為多少？此時B1、B3分別對準(zhǔn)的水平刻度值為多少？
用2.5MHz、Φ20mm直探頭探測厚為200mm的餅形鍛件，已知底波B1=80%，B2=35%，若不計(jì)底面反射損失，求該鍛件的材質(zhì)衰減系數(shù)為多少？
用2.5P20Z直探頭檢測厚500mm的餅形鋼鍛件(CL=5900m/s ) ，如何用工件底波調(diào)節(jié)檢測靈敏度（500/Ф2）
ф50×6mm無縫鋼管水浸聚焦超聲檢測，聲透鏡半徑r′= 40mm ,水中C2 = 1480m/s ,聲透鏡中C1=2730m/s , 求偏心距和水層厚度各為多少？
用2.5P20Z探頭檢測厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 如何用試塊上的深150mm ，Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處的檢測靈敏度（400/Ф2）？
用K2斜探頭檢測T = 28mm 的鋼板對接接頭 ，儀器按深度1：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線，這時衰減器讀數(shù)為34dB ， 試塊與工件耦合差為5dB ，（1） 如何調(diào)節(jié)評定線Ф1×6－9dB靈敏度？（2） 檢測中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，其波高達(dá)面板曲線時， 衰減器讀數(shù)為28dB，求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域？（按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)）