A. 2dB
B. 4dB
C. 用實(shí)驗(yàn)方法測(cè)定的補(bǔ)償dB值
D. 任意規(guī)定補(bǔ)償?shù)膁B值
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A.使用高聲阻抗耦合劑
B.使用軟保護(hù)膜探頭
C.減少探頭耦合面尺寸
D.使用高頻率探頭
A. 平面最好,凸曲面居中,凹曲面效果最差
B. 凹曲面最好,平面居中,凸曲面效果最差
C. 凸曲面最好,凹曲面居中,平面效某最差
D. 粗糙表面比平滑表面更容易實(shí)現(xiàn)耦合
A.聲阻抗小且粘度大的耦合劑
B.聲阻抗小且粘度小的耦合劑
C.聲阻抗大且粘度大的耦合劑
D.聲阻抗適中黏度適中的耦合劑
A.λ/4的奇數(shù)倍
B.λ/2整數(shù)倍
C.小于λ/4且很薄
D.以上B和C
A. 2\1波長(zhǎng)的整數(shù)倍
B. 4\1波長(zhǎng)的奇數(shù)倍
C. 8\1波長(zhǎng)的奇數(shù)倍
D. 1倍波長(zhǎng)的奇數(shù)倍
最新試題
在厚度T=200mm的試塊上校準(zhǔn)縱波掃描速度,若B2對(duì)準(zhǔn)50 , B4對(duì)準(zhǔn)100 。計(jì)算這時(shí)的掃描速度為多少?此時(shí)B1、B3分別對(duì)準(zhǔn)的水平刻度值為多少?
用K2.5斜探頭檢測(cè)T = 12mm 的鋼板對(duì)接接頭 ,儀器按水平1:1調(diào)節(jié),在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線,這時(shí)衰減器讀數(shù)為38dB , 試塊與工件耦合差為6dB 。
用單斜探頭直接接觸法檢測(cè)φ400×48mm無(wú)縫鋼管,求能夠檢測(cè)到管內(nèi)壁探頭的最大K值?
用2.5MHz、Φ20mm直探頭探測(cè)厚為200mm的餅形鍛件,已知底波B1=80%,B2=35%,若不計(jì)底面反射損失,求該鍛件的材質(zhì)衰減系數(shù)為多少?
檢測(cè)板厚T=20mm的鋼板對(duì)接焊接接頭,上焊縫寬34mm,下焊縫寬25mm,選用K2探頭,前沿距離L0=16mm,用一、二次波法能否掃查到整個(gè)焊縫截面?是否能滿足要求?
用2.5P14Z探頭探測(cè)某鍛件,發(fā)現(xiàn)在100mm深處有一個(gè)Φ6當(dāng)量平底孔缺陷,根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)評(píng)幾級(jí)?
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件(CL=5900m/s ) ,檢測(cè)靈敏度校準(zhǔn)(400/Ф2)后進(jìn)行檢測(cè),發(fā)現(xiàn)在250mm處有一缺陷,缺陷波幅比基準(zhǔn)波幅高30dB,求此缺陷當(dāng)量?
模擬式超聲波探傷儀用K2.3橫波斜探頭,用CSK-Ⅰ試塊R50和R100圓弧按水平1:1 進(jìn)行掃描速度校準(zhǔn),求R50、R100圓弧面的回波應(yīng)分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度值為多少?
用2.5P14Z探頭檢測(cè)某鍛件,發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB,另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2,檢測(cè)總面積為0.5米×0.5米,同時(shí)發(fā)現(xiàn)一單個(gè)缺陷,當(dāng)量為Φ4+10dB,試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定此鍛件等級(jí)。
用K2斜探頭檢測(cè)T = 28mm 的鋼板對(duì)接接頭 ,儀器按深度1:1調(diào)節(jié),在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線,這時(shí)衰減器讀數(shù)為34dB , 試塊與工件耦合差為5dB ,(1) 如何調(diào)節(jié)評(píng)定線Ф1×6-9dB靈敏度?(2) 檢測(cè)中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波,其波高達(dá)面板曲線時(shí), 衰減器讀數(shù)為28dB,求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域?(按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn))