單項(xiàng)選擇題使用半波高度法測(cè)定小于聲束直徑的缺陷尺寸時(shí)，所測(cè)的結(jié)果（）。

A.小于實(shí)際尺寸
B.接近聲束寬度
C.稍大于實(shí)際尺寸
D.等于晶片尺寸


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1.單項(xiàng)選擇題缺陷反射聲壓的大小取決于（）。

A.缺陷反射面大小
B.缺陷性質(zhì)
C.缺陷取向
D.以上全部

2.單項(xiàng)選擇題超聲檢測(cè)中需經(jīng)常校驗(yàn)探頭 K 值的原因是（）。

A. K 值是不穩(wěn)定的數(shù)據(jù)
B. K 值隨電壓的變化而變化
C. K 值常因磨損而發(fā)生變化
D.以上都對(duì)

3.單項(xiàng)選擇題橫波探頭在檢測(cè)過(guò)程中，斜楔將會(huì)磨損。下列說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。

A.探頭磨損會(huì)使入射點(diǎn)發(fā)生變化
B. 探頭磨損可能導(dǎo)致探頭K值的增大或減小
C. 探頭磨損可能導(dǎo)致儀器的水平線性的變化
D. 探頭磨損可能導(dǎo)致掃描速度的變化

4.單項(xiàng)選擇題利用A型脈沖反射式超聲波探傷儀對(duì)缺陷定位時(shí)，影響缺陷定位的主要因素有（）。

A.儀器和探頭
B.操作人員的影響
C.工件的影響
D.耦合劑的影響

最新試題

用K2.5斜探頭檢測(cè)T = 12mm 的鋼板對(duì)接接頭 ，儀器按水平1：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線，這時(shí)衰減器讀數(shù)為38dB ， 試塊與工件耦合差為6dB 。

題型：?jiǎn)柎痤}

用斜探頭檢測(cè)板厚T = 20mm ，上、下焊縫寬度為30mm的對(duì)接接頭，探頭前沿長(zhǎng)度為 20mm ，為保證聲束能掃查到整個(gè)焊接接頭截面，試確定用一、二次波檢測(cè)時(shí)探頭的K值？

題型：?jiǎn)柎痤}

模擬式超聲波探傷儀用K2.3橫波斜探頭，用CSK-Ⅰ試塊R50和R100圓弧按水平1：1 進(jìn)行掃描速度校準(zhǔn)，求R50、R100圓弧面的回波應(yīng)分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度值為多少？

題型：?jiǎn)柎痤}

用CSK－IA 試塊測(cè)定斜探頭和儀器的分辨力,現(xiàn)測(cè)得臺(tái)階孔Ф50、Ф44 反射波等高時(shí)波峰高h(yuǎn)1=80% ,h2=25% ,求分辨力為多少？   

題型：?jiǎn)柎痤}

用5P10×12K2探頭檢測(cè)板厚T = 24mm 鋼板對(duì)接焊縫，掃描線按深度2：1調(diào)節(jié)，檢測(cè) 時(shí)在水平刻度τf= 60處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，計(jì)算此缺陷深度和水平距離？

題型：?jiǎn)柎痤}

用2.5P14Z探頭探測(cè)某鍛件，發(fā)現(xiàn)在100mm深處有一個(gè)Φ6當(dāng)量平底孔缺陷，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)評(píng)幾級(jí)？

題型：?jiǎn)柎痤}

用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚500mm的工件，CL=5900m/s ， 檢測(cè)中在200mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷， 其波高比底波低12dB ， 求此缺陷的當(dāng)量大??？

題型：?jiǎn)柎痤}

用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚350mm的鋼鍛件(CL=5900m/s ) ,如何用工件底波校準(zhǔn)檢測(cè)靈敏度（350/ф2）？

題型：?jiǎn)柎痤}

用K1探頭探測(cè)外徑為600mm焊縫筒體，計(jì)算能探測(cè)的壁厚最大厚度是多少？

題型：?jiǎn)柎痤}

用2.5P14Z探頭檢測(cè)某鍛件，發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB，另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2，檢測(cè)總面積為0.5米×0.5米，同時(shí)發(fā)現(xiàn)一單個(gè)缺陷，當(dāng)量為Φ4+10dB，試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定此鍛件等級(jí)。

題型：?jiǎn)柎痤}