A.選擇合適的水程距離
B.選擇合適的探頭頻率
C.選擇合適的偏心距離
D.選擇合適的晶片尺寸
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A.接觸法單探頭
B.水浸法聚焦探頭
C.接觸法雙探頭
D.水浸法平探頭
A.薄壁管的檢測是以周向橫波檢測為主
B.調(diào)整靈敏度的試塊應采用內(nèi)、外壁均有人工刻槽的相同管材
C.由于曲面會引起折射角的擴散，應使用小晶片探頭
D.以上都對
A.不小于0.2
B.不大于0.2
C.不大于0.5
D.以上都不對
A.橫波檢測薄壁管的內(nèi)、外壁缺陷
B.斜入射縱波檢測厚壁管外壁缺陷，變形橫波檢測內(nèi)壁缺陷
C.斜入射縱波檢測厚壁管外壁缺陷，反射縱波檢測內(nèi)壁缺陷
D.以上都是
A.藍姆波法
B.接觸式反射回波法
C.水浸式穿透法
D.以上都不合適
最新試題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
在對缺陷進行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標準來確定。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做（）。