A.顯示屏上雜波多
B.干擾對(duì)缺陷的定量
C.干擾缺陷波的判別
D.容易引起漏檢
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A.定位
B.長(zhǎng)度測(cè)量
C.高度測(cè)量
D.定量
A.評(píng)定靈敏度
B.檢測(cè)靈敏度
C.掃查靈敏度
D.定量靈敏度
A.評(píng)定靈敏度
B.檢測(cè)靈敏度
C.掃查靈敏度
D.定量靈敏度
A.l=S×cosβ
B.l=S×sinβ
C.l=S×tanβ
D.l=S×cotβ
A.水平距離
B.深度
C.聲程及折射角度
D.聲程
最新試題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。