單項(xiàng)選擇題在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
A.缺陷
B.損壞
C.缺損
D.殘缺
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項(xiàng)選擇題采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
A.聲程
B.聲音
C.聲波
D.音程
2.單項(xiàng)選擇題對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。
A.水平刻度線
B.垂直刻度線
C.刻度線
D.水平線
3.單項(xiàng)選擇題對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng)，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。
A.最小反射波高
B.最大反射波低
C.最大反射波高
D.最小反射波低
4.單項(xiàng)選擇題對(duì)于長(zhǎng)條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。
A.長(zhǎng)度方向
B.周長(zhǎng)方向
C.圓周方向
5.單項(xiàng)選擇題對(duì)于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進(jìn)行掃查。
A.周長(zhǎng)方向
B.長(zhǎng)度方向
C.圓周方向
最新試題
（）件對(duì)不同類型的檢測(cè)對(duì)象和要求，采用的方式各有不同。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量（）測(cè)量功能的通用型儀器。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)中的對(duì)比試樣的（）和材質(zhì)相對(duì)被檢測(cè)產(chǎn)品必須具有代表性。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
掃查方式一般視試件的（）而定。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
直接射向缺陷的波就是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出（）的相關(guān)信息。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)線圈是在被檢測(cè)導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
鋁合金電導(dǎo)率的渦流檢測(cè)中硬度檢驗(yàn)是一種（）方法。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí)，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題